Контроль плоскостности полупроводниковых пластин при поступлении и отправке со склада
Контроль плоскостности полупроводниковых пластин при складских операциях
3D лазерные сканеры линейных профилей серия LS позволяет контролировать плоскостность полупроводниковых пластин. Это позволяет определять, не повреждены ли продукты при поступлении или отправке, и своевременно предотвращать попадание поврежденных пластин на последующие этапы производства.
Общие сведения:
- Применяемое оборудование:
3D лазерный сканер линейных профилей LS-8400
- Требование к тестированию:
Контроль плоскостности обратной стороны 12-дюймовых полупроводниковых пластин
Динамической повторяемостью 0.05 мм
Время измерения ≤4.5 секунд.
- Преимущества оборудования:
Высокочастотные алгоритмы обработки изображений обеспечивают динамическую точность контроля плоскостности полупроводниковых пластин в пределах 0.005 мм.
Собственная разработка CMOS матрицы для формирования изображений обеспечивает сверхвысокую скорость сканирования с временем измерения меняя 4.5 секунд
- Преимущества для потребителя:
3D линейный лазерный сканер линейных профилей серии LS от Wonsor представляет собой надежное решение для стабильного контроля качества полупроводниковых пластин, что позволяет гарантировать высокое качество выпускаемой продукции и минимизировать количество дефектов.
Платформенное программное обеспечение для машинного зрения позволяет создать гибкую и масштабируемую систему контроля с минимальными затратами на внедрение и обслуживание.
Демонстрация:


